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Título : Nonstoichiometry and hole doping in NiO
Autor : Osorio Guillén, Jorge Mario
Lany, Stephan
Zunger, Alex
metadata.dc.subject.*: Óxido de níquel
Energías de formación
Dopaje de huecos
Fecha de publicación : 2010
Editorial : The American Physical Society
Citación : Osorio Guillén, J. M., Lany, S., & Zunger, A. (2010). Nonstoichiometry and hole doping in NiO. AIP Conference Proceedings. 1199(1), 128-129.DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.3295330
Resumen : ABSTRACT: We have study by means of DFT+U and thermodynamic calculations the doping response of the p-type transparent oxide NiO. We have found from the calculated defect formation enthalpies that Ni vacancy, not the O interstitial, is the main source of nonstoichiometry in NiO. On the other hand, the calculated free-hole concentration at room temperature of pure NiO remains very low compared to the concentration of Ni vacancies; this is due to the too large ionization energy of the Ni vacancy. The free-hole concentration can be strongly increased by extrinsic dopants with a more shallow donor as it is illustrated for the case of Li.
metadata.dc.identifier.eissn: 1935-0465
ISSN : 1551-7616
metadata.dc.identifier.doi: http://dx.doi.org/10.1063/1.3295330
Aparece en las colecciones: Artículos de Revista en Ciencias Exactas y Naturales

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